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X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀 (XAFS)
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-
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產(chǎn)品描述
參數(shù)
技術(shù)參數(shù)：
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參數(shù) |
說明 |
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綜合性能 |
能量范圍 |
4.5~25keV |
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采譜模式 |
透射模式 |
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樣品處光通量 |
>4000000光子/s/ev |
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能量分辨率 |
XANES:0.5-1.5eV EXAFS:1.5-10eV |
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X射線通路 |
氦氣通路，減少空氣吸收 |
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重復(fù)性 |
重復(fù)采集能量漂移<50meV |
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結(jié)構(gòu) |
雙羅蘭圓結(jié)構(gòu)，利用多束X射線源，同時(shí)實(shí)現(xiàn)2個(gè)以上元素測(cè)試 |
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X射線源 |
功率 |
1.6kW, 高壓10-40kV，電流1-40mA |
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靶材 |
W\Mo靶，其他靶材可選購(gòu) |
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單色器 |
類型 |
500mm曲率半徑球面分析晶體，尺寸102mm |
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探測(cè)器 |
類型 |
大面積SDD，150mm2有效面積 |
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其他配置 |
樣品輪盤 |
18位樣品輪盤，多樣品連續(xù)自動(dòng)化測(cè)試 |
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原位樣品池 |
電催化、變溫、其他多場(chǎng)、力學(xué)條件下原位池 |
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分析晶體 |
特殊元素定制分析晶體單色器 |
核心優(yōu)勢(shì):
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最高光通量產(chǎn)品
光子通量高于4,000,000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量
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優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強(qiáng)度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復(fù)采集能量漂移 < 50 meV
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1%探測(cè)極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和極好的光源穩(wěn)定性確保所測(cè)元素含量>1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理：
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具，廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門領(lǐng)域。
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Mn數(shù)據(jù)，Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù)：core to core XES 和 valence to core XES
測(cè)試數(shù)據(jù)：
Foil EXAFS數(shù)據(jù)
可測(cè)元素：綠色部分可測(cè)K邊，黃色部分可測(cè)L邊
應(yīng)用領(lǐng)域：
工業(yè)催化、儲(chǔ)能材料、納米材料、環(huán)境毒理、也質(zhì)分析、重元素分析等
關(guān)鍵詞:
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀
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